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橢偏顯微鏡

簡要描述:Accurion EP4 橢偏顯微鏡
用途:多層薄膜的厚度和光學常數(n、k值)測量

  • 產品型號:EP4
  • 廠商性質:代理商
  • 更新時間:2026-01-15
  • 訪  問  量:242

詳細介紹

品牌Park價格區間80萬-100萬
產地類別進口應用領域化工,電子/電池,制藥/生物制藥,電氣,綜合

Accurion EP4 橢偏顯微鏡

用途:多層薄膜的厚度和光學常數(n、k值)測量


  • 橫向分辨率(x/y方向)小至1微米,薄膜厚度測量精度0.1納米。

  • 選區測量功能:實現微結構試樣和微小試樣的選區橢偏測量

  • 全顯微鏡視場直接成像,取代傳統單點測量

  • 光斑切割技術,真正實現超薄透明;基底上薄膜的無背底反射橢偏測量

  • 多種技術聯用,如:原子力顯微鏡(AFM),

表面等離子共振(SPR),反射光譜(RefSpec),

拉曼光譜儀(RamanSpec),石英晶體微天平(QCM),

白光干涉儀(WLI)和LB槽/膜天平等


Accurion EP4 橢偏顯微鏡

橢偏顯微鏡



Accurion EP4 橢偏顯微鏡

用途:多層薄膜的厚度和光學常數(n、k值)測量


  • 橫向分辨率(x/y方向)小至1微米,薄膜厚度測量精度0.1納米。

  • 選區測量功能:實現微結構試樣和微小試樣的選區橢偏測量

  • 全顯微鏡視場直接成像,取代傳統單點測量

  • 光斑切割技術,真正實現超薄透明;基底上薄膜的無背底反射橢偏測量

  • 多種技術聯用,如:原子力顯微鏡(AFM),

表面等離子共振(SPR),反射光譜(RefSpec),

拉曼光譜儀(RamanSpec),石英晶體微天平(QCM),

白光干涉儀(WLI)和LB槽/膜天平等



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